GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法
标准编号：GB/T 43063-2023
规范名称：集成电路 CMOS图像传感器测试方法
该国家标准描述了具有线性光电响应特性的线阵、而阵和时间延迟积分（TDI）CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。
该国家标准适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、天津大学、中国电子技术标准化研究院、重庆光电技术研究所、长春精测光电技术有限公司、深圳佑驾创新科技有限公司
起草人：李俊霖、张涛、赵宇、聂真威、马洪涛、卢岩、唐延甫、聂凯明、马悦、刘国清、兰太吉、杨永强、韩冰、金辉、徐江涛、刘昌举、李金、高志远、王琪、刘秀娟
GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法(图)
